BS IEC 60747-14-2-2000 分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件

作者:标准资料网时间:2024-05-14 19:08:23 浏览:9511 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Semiconductordevices-Semiconductorsensors-Hallelements
【原文标准名称】:分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件
【标准号】:BSIEC60747-14-2-2000
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2001-05-15
【实施或试行日期】:2001-05-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;半导体器件;霍耳效应;测头;集成电路;磁场效应
【英文主题词】:Electronicengineering;Halleffect;Optoelectronicdevices;Semiconductordevices;Sensors
【摘要】:ThispartofIEC60747providesstandardsforpackagedsemiconductorHallelementswhichutilizetheHalleffect.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_99;31_080_01
【页数】:18P.;A4
【正文语种】:英语

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